膜厚仪迷你测试650N

发布时间:2025-01-16 14:11:30
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膜厚仪迷你测试650N

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产品规格

模型 650N
测量范围 0~2000μm
测定方式 涡流式
规格 测量精度:±(2μm+读数的2%) *小分辨率:1μm *小测量凸曲率:5mm半径 *小测量凹曲率:25mm半径 *小测量面积:20mm直径 *小测量基材厚度:0.5mm 测量显示单位:μm、mm /mils 校准模式:1 点校准、2 点校准 统计显示:测量次数(*多 9999 次)、平均值、标准偏差、*小值、*大值 电源:AAA 电池 x 3 尺寸:主机 70 x 122 x 32 毫米;探头直径 15 x 62 毫米 重量:225 克 附件:调零板、参考板、AAA 电池 x 3、使用说明书、存储盒
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