Kett Scientific 薄膜厚度计 Elnix 8500 优质铁探头

,Kett Scientific 薄膜厚度计 Elnix 8500 优质铁探头,

主体	Elnix 8500 高级版
探测	铁探针
测量范围	0~5000μm
测量目标	磁性金属（铁/钢）上的非磁性涂层
测定方式	电磁诱导式
测量精度	0～2000μm以下：±1μm+2%，2000μm以上：±3.5%（2000μm显示为2.00mm）
电源	2节AA碱性电池（1.5V电池）
配件	铁底座、3块标准板（100、1000、3000μm）、便携包、探头连接电缆、软包、使用说明书、简易指南
分解能	100μm以下：0.01μm/0.1μm/1μm（3级可切换） 1000μm以下：1μm 1000μm以上：10μm
数据存储器数量	1300点以上（2000点/1个补丁）
批次数	200个
用户校准（校准曲线）	100 件
附加功能	各种设定14种
动作环境温度	0~50℃
尺寸	67(宽)×124(深)×33(高)毫米
质量	0.12公斤
数量	1台

,0257681943