,膜厚仪迷你测试650N,

模型	650N
测量范围	0~2000μm
测定方式	涡流式
规格	测量精度：±（2μm+读数的2%）小分辨率：1μm 小测量凸曲率：5mm半径小测量凹曲率：25mm半径小测量面积：20mm直径小测量基材厚度：0.5mm 测量显示单位：μm、mm /mils 校准模式：1 点校准、2 点校准统计显示：测量次数（多 9999 次）、平均值、标准偏差、小值、大值电源：AAA 电池 x 3 尺寸：主机 70 x 122 x 32 毫米；探头直径 15 x 62 毫米重量：225 克附件：调零板、参考板、AAA 电池 x 3、使用说明书、存储盒

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温度传感器TCE-704